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重力干法激光粒度仪

HELOS & GRADIS
  • 应用场景
    粒度分析
  • 应用范围
    0.5 - 8,750 微米

产品详情

GRADIS分散系统适用于那些不需要太高分散能量的样品比如晶体、沙粒、小粒等。利用颗粒自由落体过程,实现颗粒的分散。它与HELOS激光衍射系统组合 ,成为重力干法激光粒度仪HELOS&GRADIS

 

检测粒度范围:

0.5- 8750 微米 (可根据实际应用范围配置量程)
 

测试原理:

利用光的衍射现象,即大颗粒产生的衍射角小,小颗粒产生的衍射角大,通过计算探测器上收集到的不同衍射图形的光强分布,来给出颗粒的粒度大小和粒度分布。

 

粗颗粒可通过自由落体运动飞过重力干法激光粒度仪HELOS&GRADIS测量区,并通过激光衍射法进行粒度的分析与测试。

 

功能及特点:

1. 如需要,样品可以在测试之后回收再利用

2. 可对非常粗的颗粒进行检测,而每次的样品量可以达到公斤级

3. 下落柱的出口狭缝的宽度2 mm, 4 mm 或者 10 mm可手动选择,以适配样品应用

4.  在一些特殊的应用中,可对下落柱进行导电或者非导电的PTFE镀膜处理

 

HELOS激光粒度仪全系列产品

模块化设计:满足当前检测需求,并提供未来通过添加模块拓展功能的可能。

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